金相显微镜-PantheraTEC

产品简介
PantheraTEC为半导体和其他材料的检测和分析提供了很高的价值，特别是在质量控制和技术教育方面。明场、暗场和简易偏光以及新的LED分段照明相结合，这一概念允许倾斜入射照明角度，非常适合检测平面和反射表面上的划痕或其他缺陷，而无需移动样品。
PantheraTEC具有出色的成像性能，安装在5孔编码转换器上的每个目标镜头的光强能够自动记忆。